Melzner, Hanno: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (9)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

[IEEE 2010 21st Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) - San Francisco, CA, USA (2010.07.11-2010.07.13)] 2010 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) - Navigating in the density plane – achieving flat wafer surface and uniform metal thickness in CMP processes

Melzner, Hanno, Cui, Ning, Postnikov, Sergei

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 953 KB

english, 2010

2

[IEEE 2014 IEEE International Test Conference (ITC) - Seattle, WA, USA (2014.10.20-2014.10.23)] 2014 International Test Conference - Latent defect detection in microcontroller embedded flash test using device stress and wordline outlier screening

Kux, Andreas, Ullmann, Rudolf, Kern, Thomas, Strunz, Roland, Melzner, Hanno, Beuven, Stephan, Haase, Andreas

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.32 MB

english, 2014

3

Maximization of Good Chips Per Wafer by Optimization of Memory Redundancy

Melzner, Hanno, Olbrich, Alexander

Журнал:

IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 740 KB

english, 2007

4

[IEEE 2008 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) - Cambridge, MA, USA (2008.05.5-2008.05.7)] 2008 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference - A Yield Model Incorporating Random and Systematic Yield Part I: Theory

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 274 KB

english, 2008

5

Special Section on the Advanced Semiconductor Manufacturing Conference 2007 (ASMC 2007)

Patterson, Oliver D., Melzner, Hanno, Beeg, Thomas

Журнал:

IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 648 KB

english, 2008

6

[ACM Press the 44th annual conference - San Diego, California (2007.06.04-2007.06.08)] Proceedings of the 44th annual conference on Design automation - DAC '07 - Concurrent wire spreading, widening, and filling

Rizzo, Olivier, Melzner, Hanno

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 343 KB

english, 2007

7

Failure Rate Prediction and Accelerated Detection of Anomalous Charge Loss in Flash Memories by Using an Analytical Transient Physics-Based Charge Loss Model

Schuler, Franz, Tempel, Georg, Melzner, Hanno, Jacob, Michael, Hendrickx, Paul, Wellekens, Dirk, Van Houdt, Jan

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 438 KB

english, 2002

8

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 24 February 2008)] Design for Manufacturability through Design-Process Integration II - A routing clean-up methodology for improvement of defect and lithography related yield

Herry, Jacques, Singh, Vivek K., Rieger, Michael L., März, Reinhard, Melzner, Hanno, Peter, Kai, Rizzo, Olivier

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 278 KB

english, 2008

9

[IEEE 2016 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE) - Kuala Lumpur, Malaysia (2016.8.17-2016.8.19)] 2016 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE) - Critical Area Analysis of IC layout for automotive application

Joseph, Ke Kian Seng, Heng, Tan Ban, Hanno, Melzner

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 378 KB

english, 2016